SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

производител

Texas Instruments

категория на продукта

логика - специалност логика

Описание

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Спецификации

  • серия
    74BCT
  • пакет
    Tape & Reel (TR)
  • състояние на част
    Obsolete
  • тип логика
    Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
  • захранващо напрежение
    4.5V ~ 5.5V
  • брой битове
    8
  • Работна температура
    0°C ~ 70°C
  • тип монтаж
    Surface Mount
  • пакет/калъф
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • пакет устройство на доставчика
    24-SOIC

SN74BCT8374ADWRE4 Поискайте оферта

В наличност 4353
Количество:
Целева цена:
Обща сума:0